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> X-MET3000TXV+航天航空工業輕金屬元素的檢測
X-MET3000TXV+航天航空工業輕金屬元素的檢測
發布日期：2008-08-24 瀏覽次數：4290
X-MET3000TXV+
：牛津儀器新型手持式XRF分析儀
——航天航空工業輕金屬元素的檢測
牛津儀器型的便攜式XRF分析儀，在硬件上配置了新的真空泵，為航天航空工業輕金屬元素的檢測提供了更為有效的分析工具。
X-MET3000TXV+
突破了傳統意義上XRF無法測量的一些應用，可快速地檢測航空部件上鋁合金中硅和鎂含量、鈦合金中鋁的含量。而在這之前，上述元素都無法檢測。
X-MET3000TXV+
不但實現上述應用，同時只需您輕輕一按，就能快速準確地得到樣品的牌號身份和各元素的含量。
這款儀器為用戶帶來巨大效益，而便攜式直讀光譜儀的技術會在表面留下印記。
X-MET3000TXV+
所具備的輕元素檢測能力，尤其適合航天航空及相關行業，因為這些行業普遍使用鋁合金和鈦合金。關于
X-MET3000TXV+
的真空系統，并不需要攜帶壓縮氣體瓶。降低了您的氣體消耗成本，同時您也不必擔心沒氣時，無法進行檢測的尷尬局面。
傳統的便攜式XRF分析儀對合金的鑒別是基于重金屬元素分析，因為鋁、鎂、硅這些元素所產生的低能量X射線在空氣中阻力太大，無法到達探測系統，所以無法分析。
X-MET3000TXV+
所配置的真空泵，改變了其空氣狀態的工作模式，實現了對這些元素的測量。
牛津PentaPIN
TM
探測器的高分辨率增強了真空泵的特性，尤其表現在分析時間縮短和各元素的檢測下限降低。原理是只有通過硅或鎂的含量來鑒別鋁合金和鈦合金。新產品
X-MET3000TXV+
在分析其他合金（例如不銹鋼、銅合金等）保留了原先X-MET3000TX+分析儀的高性能。
基于牛津儀器PentaFET
技術的PentaPIN
TM
探測器，能夠更快地得到分析結果，并降低了所有被分析元素的檢測下限。應用該款探測器的儀器在10秒內所取得的檢測結果與標準的硅PIN 探測器（Si-PIN）的同類分析儀在30秒的測試時間內所取得數據結果是等同的。的操作軟件能夠處理新探測器產生的數據，提高結果的準確性。
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技術的PentaPINTM 探測器，能夠更快地得到分析結果，并降低了所有被分析元素的檢測下限。應用該款探測器的儀器在10秒內所取得的檢測結果與標準的硅PIN 探測器（Si-PIN）的同類分析儀在30秒的測試時間內所取得數據結果是等同的。的操作軟件能夠處理新探測器產生的數據，提高結果的準確性。
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